產(chǎn)品簡介：
ZMS850大顆粒計(jì)數(shù)粒度圖像分析儀系統(tǒng)是采用圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。其工作原理是通過專用高分辨率CCD線性傳感器和光學(xué)掃描平臺(tái)，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進(jìn)行分析。結(jié)合智能的背景分離及超強(qiáng)的顆粒邊界搜索算法，將目標(biāo)顆粒與背景分離，分析出各種測量參數(shù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
儀器具有超大測量范圍及高分辨率，同時(shí)具有直觀、可視、準(zhǔn)確、操作簡單、測量參數(shù)全面等特點(diǎn)。是目前唯一能夠同時(shí)測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的新型大顆粒粒度分析儀器。
技術(shù)參數(shù)：
測量范圍：5μm ～ 100mm
重復(fù)性誤差：<3%
等效粒徑：等面積圓、等周長圓、等效短徑、等效長徑、等效橢圓短軸、等效寬度、等效長度、等效正六邊形短軸、等效正六邊形長軸。
粒度統(tǒng)計(jì)：體積、面積、顆粒、數(shù)量統(tǒng)計(jì)
形狀參數(shù)：圓度、球形度、凸起度、實(shí)積度、延伸度、長徑比、長寬比、橢圓度
測量方式：干法
光學(xué)傳感器：CCD線性傳感器
圖像分辨率：20000 * 20000
光學(xué)平臺(tái)：220mm * 300mm
背景光源：反射光
工作環(huán)境：5～35℃（溫度）, ＜85%（相對濕度）
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